本荘由利産学共同研究センター

・走査電子顕微鏡は、光学顕微鏡では観察不可能な微小な表面構造を鮮明に観察することができます。
・本装置は、倍率30~30万倍まで試料を拡大して表面の微小構造観察が可能です。
　走査型電子顕微鏡（SEM）とエネルギー分散型X線分析装置（EDS）を使用することで、表面の元素分析の質量などの分析が可能です。（白金ターゲットのコーターも活用可能です）
・SEMには低真空（LV）でも観察できる装置で、有機物などの観察も可能です。
・EDSにはドライSD検出器を使用しており、液体窒素が不要で装置の立ち上げから数分で解析可能です。　　

工業材料、電子部品、食品、生物、ゴミ異物などのコンタミなどの分析・解析